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2024年11月25日 星期一

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X荧光光谱仪应用领域

●各种电子电器产品RoHS检测

●卤素检测

●镀层厚度分析

X荧光光谱仪软件技术:

●分析元素:Na~U之间元素。

● 分析时间:60~400秒。

● 配置RoHS检测分析模型,无卤分析模型。

● 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作。

● 软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据。

●根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试度。

● 配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。


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