X荧光镀层测厚仪

X荧光镀层测厚仪应用领域：

● 镀层分析：各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析；镀层元素含量分析
●RoHS /ELV指令测试元素：Pb（铅）、Cd（镉）、Hg（汞）、Cr（铬）、Br（溴）

●无卤检测：测试元素：Br（溴）、Cl（氯）；

●合金分析：钢铁、铜类、锌类等成分分析。

X荧光镀层测厚仪辐射防护：

● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线。

● 辐射标志警示。

● 迷宫式结构，防止射线泄漏。

● 连锁设计；测试过程中误打开样品盖时，电路0.1μS快速切断X射线。